- 產(chǎn)品尺寸
3~8"&7~17"&21~85"
- 效率
3.5 Sec（3~8"）&8Sec（7~17"）&12~19Sec（21~85"）
- 設備精度
AOI±2μm
ART±60mΩ
- 設備尺寸
AOI: 3400×1750×1700mm（僅供參考）
ART: 2000×16500×1800mm（僅供參考）
- 技術優(yōu)勢
高精度高穩(wěn)定性能
dimpple過濾功能
IC/FPC和COF“八字”型bump導電粒子檢測
Bump區(qū)異物裂紋檢測，≥10μm異物可檢出
IC正面外觀檢測，X/Y ≥ 10μm
顆選增加端子區(qū)異常檢測，包含異物裂紋+崩邊
- 技術優(yōu)勢
AOI：LCM上料→CCD定位→壓痕粒子+精度檢測→自動出料
ART：LCM上料→CCD定位→阻抗測試→自動出料
全自動壓痕粒子檢測和阻抗測試設備
全自動壓痕粒子檢測和阻抗測試設備，應用于AOI-COF/IC/FPC本壓后導電粒子檢測，本壓后粒子以及AG阻抗測試，流程包括上料、CCD定位、檢測/測試、出料。
細節(jié)圖
技術參數(shù)
相關產(chǎn)品
